北京燕京電子有限公司

玻璃光學常數測試儀

一種可以同時測量反射率、透射率的光學薄膜測厚儀 產品特征 · 易于安裝· 基于視窗結構的軟件，很容易操作· 先進的光學設計，以確保能發揮出較佳的系統性能· 基于陣列設計的探測器系統，以確保快速測量· 獨特的光源設計，有著較好的光源強度穩定性· 較多可測量5層的薄膜厚度和折射率· 在毫秒的時間內，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數 · 能夠用于實時或在線的厚度、折射率測量· 系統配備大量

2011-11-04 0

供應光學薄膜測厚儀

KMAC 簡介 K-MAC(株)公司附屬韓國物理性質分析研究所,主要開發生產具有高科技含量的 物理化學分析儀器和應用儀器。K-MAC(株)公司在北京設有分公司，可為您提供 及時的售前、售后服務。方便您的研究、生產。 設備簡介? 1.特點 l 操作簡單易懂 l 非接觸式、非破壞式測量方法 l 可同時測量多層膜厚度 l 原地測量 l 價 格合理 2.應用領域 半導體 Pol

2011-09-18 0

供應Low-e玻璃薄膜分析設備-

? ? 可用于分析當今Low-E玻璃中比較流行的單銀、雙銀、三銀玻璃及熱反射產品膜系結構分析， 如NiCr、Cr、Cu、Ag、單晶Si、C、ZnSn、SiAl、ZnAl、TiOX、NbOX、AZO等材料組成的各種膜系機構，可準確F分析測試各膜層的厚度和光學常數(N、K)。 ? 產品特點： ? 易于安裝 基于視窗結構的軟件，很容易操作 先進的光學設計，以確保能發揮出較佳

2011-03-16 0