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Bump高度、直徑、共面性在線檢測l? 凸塊（Bump）高度l? 凸塊（Bump）共面性l? 凸塊（Bump）直徑多光束共聚焦光學系統如果反射光線的物體表面位于與點光源共軛的位置，那么高速測量是不可能的。只有與單個zj共軛的單一光束測量才能實現。此系統的測量傳感器在zj陣列中擁有超過3百萬個zj點，能夠通過多光束系統實現高速測量。我們有兩個多光束共焦系統選項。一種是非掃描型(NCS)，適用于高速和更廣泛的測量范圍;另一種是掃描型(SCS)，通過應用zj陣列的線性掃描系統，具有更高的檢測分辨率。光學共聚焦高度測量新機制在共焦法中，需要通過線性掃描來獲取并計算光電探測器的zd輸出。然而，通過Z級移動進行Z掃描的速度并不令人滿意。我們獨特的光學技術，無需Z級掃描即可實現這一目標。通過光路上裝配不同厚度的玻璃盤，焦點位置會根據玻璃厚度發生變化，這種效果等價于Z軸移動，通過旋轉玻璃盤實現高速的Z軸掃描，因此可以高速度獲取不同焦點的圖像。?配置參數Bump3D檢測系統10FOV(mm)13×139.9×7.49.9×9.913×1341×3315×15XY精度（um）3.02.41.Z軸范圍（um）Bump 最小直徑（um）25Bump 間距（um）55? [詳情]

核心保養原則防塵、防潮、防震：這是光學儀器的通用黃金法則。?輕柔操作：避免任何粗暴的觸碰，尤其是光學元件。?定期執行：將保養工作制度化，形成習慣。?一、?每日保養（每次使用后）這部分工作應在每日實驗結束后進行，為第二天的使用做好準備。?清潔樣品臺：?目的：防止殘留的樣品（尤其是油性、腐蝕性物質）污染或腐蝕臺面。?方法：?用吹氣球（皮老虎）吹去表面的灰塵和顆粒。?用專用的拭鏡紙或無塵布，蘸取少量高純度酒精（如無水乙醇或異丙醇），輕輕擦拭樣品臺表面。?對于頑固污漬，讓酒精在表面停留片刻以溶解它，然后朝一個方向輕輕擦除。?注意：切勿使用過多的酒精，以免液體流入設備內部。?清潔光學鏡頭：?目的：確保光路的通暢和清晰，避免灰塵影響測量結果。?方法：?首先，務必使用吹氣球吹去大顆粒灰塵。直接擦拭會劃傷鏡片。?如果仍有污漬，使用干凈的拭鏡紙卷成筒，滴上少量高純度酒精，從中心向外以螺旋方式輕輕擦拭。?警告：對于內置的、不易觸及的鏡片，除非說明書允許，否則不要自行清潔，應交由專業人員處理。?關閉電源和光源：?先關閉測量軟件，再關閉設備電源和電腦。??覆蓋防塵罩：?采用遮光類的防塵罩，在防塵和保護設備的同時，可以屏蔽外接環境光隊測量的影響。二、?每周/每月保養（定期保養）這部分工作可以根據使用頻率調整，如果使用頻繁，應縮短周期。?全面清潔：?對儀器外觀、屏幕、鍵盤（如有）進行清潔。?仔細清潔所有暴露在外的光學部件，如偏振片、波片、攝像頭鏡頭等（遵循每日保養中的光學清潔方法）。?檢查電源線和連接線：?檢查所有電纜是否有破損、老化或接觸不良的情況。?環境檢查：?確認儀器放置的環境是否符合要求：?溫度與濕度：是否在說明書規定的范圍內（通常是?20-25°C，濕度?穩定性：工作臺是否穩固，無振動。?潔凈度：實驗室是否保持清潔。??三、?年度保養（專業性保養）建議由廠家或經過認證的專業工程師進行。?全面校準：?使用更高級別的標準件對儀器的光強、相位延遲測量等進行系統性校準，確保數據溯源性。?內部清潔與檢查：?由工程師打開外殼，對內部光路、電子元件進行清潔和檢查。?光源壽命檢查：?檢查光源的亮度是否衰減，必要時進行更換。?四、?保養注意事項（“切勿”清單）切勿用手直接觸摸光學元件：手上的油脂和汗液會永久性損壞鍍膜。?切勿對光學元件哈氣清潔：水汽會帶來雜質并可能引起霉變。?切勿使用非指定的清潔劑：避免使用丙酮、強酸強堿等有機溶劑或腐蝕性液體。自來水、洗衣粉等更是絕對禁止。?切勿使用棉球、普通紙巾、衣角擦拭鏡頭：這些材料纖維粗糙，可能含有木質顆粒，極易劃傷精密光學表面。?避免劇烈振動和溫度驟變：搬動或移動儀器時要輕拿輕放。將儀器從寒冷環境移至溫暖環境時，應等待其自然升溫至室溫后再開機，防止冷凝水在內部形成。?保持環境干燥：長期在高濕度環境下使用，光學元件容易滋生霉菌。?五、?保養工具清單準備一個專門的“保養工具箱”：?吹氣球（皮老虎）：工具，用于去除灰塵。?專用拭鏡紙或無塵布：確保高潔凈度、低脫落。?高純度溶劑：無水乙醇、異丙醇（純度99%以上為佳）。?乳膠手套/無粉指套：避免在操作時留下指紋。?軟毛刷：用于清掃儀器外殼和死角的浮塵 [詳情]

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內部會產生內應力，引起雙折射，晶體物質本身具有雙折射的光學特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小�！　∪毡綪HL公司應力雙折射儀的原理：????????????當光穿透具有雙折射特性的透明物質時，光的偏光狀態會產生變化。換句話說，比較光穿透物體前之后的偏光狀態，即可評估物質的雙折射。該設備裝配的偏光感應器，使用了日本PHL公司特有的光子晶體技術組裝而成的偏光感應器，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數據定量化，變成可以分析的資料。用途：????????應力儀是用來檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃制品、塑料制品等工業得到廣泛應用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質礦產、材料科學領域也有不少應用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設備。?　　日本PHL公司應力雙折射儀系統特點：　　1、操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布�！　�2、2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。　　3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。 [詳情]

塑料光學制品具有附加值高、成型加工難度大、經濟效益顯著的特點,有巨大的市場需求和良好的發展前景。但塑料光學產品,在傳統的注塑成型時一方面易產生流痕、銀紋、縮陷、氣孔等外觀缺點;另一方面,容易產生殘余應力、大雙折射率差以及翹曲變形等尺寸和性能缺點,且幾種缺點互相關聯。因此如何分析預測、評價、減少/清理塑料光學產品的殘余應力,提高制品的成型品質是塑料光學材料成型過程中所要解決的關鍵性問題,同時對提升塑料工業的加工水平、促進產業結構調整有重要意義。注塑產品雙折射(應力)測量例: [詳情]

日本Photonic Lttice公司針對市場的需要，開發除了新款的紅外波段的應力雙折射測量系統，對分析紅外光學產品提供了幫助，新款的WPA-NIR在以往的設計基礎上，更加的小型化，操作簡單、測量速度快，可搭配流水線使用。 [詳情]

LIMO擁有先進的光學解決方案和的激光系統,使成為激光加工工藝和應用中的關鍵技術的提供者，運用LIMO微光學技術，可以將激光光束整形為線形，方形和其他定制輪廓，為加工材料提供了一種革命性的方法，同時可增強材料現有的性能，我們的核心競爭力包括以下部分：光學器件：我們使用高規格的玻璃或晶體，通過晶圓制造工藝來制作光學鏡片，一次性即可生產出數以千計的微透鏡，并保證始終如一的高質量和性能。光束整形系統：可以提供集成為光學系統的緊湊模塊，并裝配于現有的生產設備中，實現可靠的工藝過程管理。完整光學解決方案：完整的線性光束整形系統和半導體激光解決方案，是材料及材料大面積的表面可以被快速的處理。我們在上述每個技術領域可以提供多元化的可定制產品，同時有能力提供完整的光學解決方案，使我們在不同行業里成為廣大企業的強大合作伙伴。 [詳情]

隨著技術的發展，光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高，市場需要更高等的產品，其中在液晶面板吃起的成產中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優良很大程度上影響生產出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發人員一直沒有合適設備來測量， 近期，日本的phl廠家帶來這款通過測量雙折射的方法來檢驗配向角度的設備。測量示例：通過WPA-200的檢驗，可以知道產品的雙折射大小和方向，內應力的分布情況，在經過分析得到數據 [詳情]

l??無法衡量壓力？我們正在測量的是延遲（相位差）。在光彈性效應中，當將應力和厚度施加到每種材料的光彈性常數時，會發生延遲。數據處理選項還具有輸入光彈性常數和厚度並以應力為單位顯示它們的功能。但是，它受形狀的影響，因此我們不能保證數值。l??不能測量折射率分佈（折射率差）嗎？我無法衡量。我們測量的不是折射率的絕對值，而是取決於偏振方向的折射率差。l??你可以測量甚至是半透明的嗎？這取決於程度。要求進行演示評估以親自體驗。請事先了解，測量值可能會因半透明程度而有所不同。l??分辨率是多少？您可以通過上下移動測量頭來改變視野。範圍決定分辨率。在PA中，水平方向上為1120像素。l??測量環境是否需要暗室？不需要。但是，室內照明可能會反射到樣品上並影響測量值。l??我想通過結合自動平臺來自動測量。外部控制選項允許您從外部程序控制測量設備（PA / WPA）。l??可以提供定制支持嗎？在與客戶協商後，我們將盡可能地做出回應。請我們聯繫。l??我不知道是否有雙折射。將樣品夾在兩片偏光膜之間，然後嘗試將其向前旋轉。如果亮度或顏色隨旋轉而變化，則可以確定存在雙折射。l??高層度方向上的相位差分佈可能嗎？不能l??可以測量磨砂玻璃嗎？儘管可以執行測量，但根據散射程度，可能無法輸出正確的值。l??能測量紅色樹脂成型品嗎？由於測量波長是綠色波長，因此無法進行測量。（綠色不通過。）l??我可以自由更換鏡頭嗎？我們對每個鏡頭進行校正。除附帶的鏡頭外，請勿使用其他鏡頭。l??我想移開頭部並用另一個光源進行測量。不保證。 [詳情]

　　透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內部會產生內應力，引起雙折射，晶體物質本身具有雙折射的光學特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小。本儀器能測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應力級別，是光學儀器制造業不可缺少的儀器，也是研究晶體礦物質的重要工具，廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質量分析和控制領域。　　應力雙折射儀的原理：　　當光穿透具有雙折射特性的透明物質時，光的偏光狀態會產生變化。換句話說，比較光穿透物體前之后的偏光狀態，即可評估物質的雙折射。該設備裝配的偏光感應器，使用了敝公司特有的Photonic結晶組裝而成，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數據定量化，變成可以分析的資料�！　�應力雙折射儀用途：　　應力儀是用來檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃制品、塑料制品等工業得到廣泛應用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質礦產、材料科學領域也有不少應用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設備�！　�應力雙折射儀系統特點：　　1、操作簡單/快速測定：獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布�！　�2、2D數據的多方面分析功能：二維數據的強大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性�！　�3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數據進行計算，WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差 [詳情]