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電子組件振動試驗臺
基本信息
電子組件振動試驗臺法
一、電子組件振動試驗臺法適用范圍：本標準規定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。
二、電子組件振動試驗臺法裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。
（1）振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為25%以下。
（2）振動振幅：規定振動方向之振幅容許差，須為規定值之±15%以內。
（3）與規定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為規定方向之25%以下。
（4）振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應為±2%。
（5）掃描（1）方法：原則是為對數掃描，但平均掃描亦可。
注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規定振動頻率范圍作1次往復之頻率變化。
三、電子組件振動試驗臺法準備
3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標準規定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝后亦不得松動或發生共振，組件標準應規定下列任一種安裝方法。
（1） 固定組件本體（有導線之組件，亦同時固定導線）。
（2） 僅固定導線。
四、電子組件振動試驗臺法試驗
4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規定。
4．2 初期測定：依組件標準之規定施行，檢查外觀。
4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產生磁導且供試品易受磁場影響時，于組件中應規定其較大允許值。
4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗）
（1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標準之規定，照下表施行（參照圖）。
振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。
表
|
振動種類 試驗條件 |
種類A |
種類B |
種類C |
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振動頻率范圍 |
10～55Hz |
100～500Hz |
10～2000Hz |
|
全振幅或加速度 |
1．5mm |
1．5mm或98m/s2（10G）中較小者 |
1．5mm或196m/s2（20G）中較小者 |
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掃描之比例 |
10-55-10Hz 約1分鐘 |
10-500-10Hz約15分鐘 |
10-2000-10Hz約20分鐘 |
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掃描方法 |
對數掃描或平均掃描 |
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試驗時間 |
6小時 |
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武漢尚測試驗設備有限公司基本信息
主營產品：振動試驗臺,振動臺,紫外老化試驗箱,高低溫試驗箱,鹽霧腐蝕試驗箱,氙燈老化試驗箱,臭氧老化試驗箱 公司成立年份：2011
公司網址：http://suncek17.glass.com.cn
產品屬性：
計量單位：臺 供貨總量：150 最小起訂量：1 產品單價：8200.00 品牌： 規格型號：SC-F 包裝說明：木箱
公司網址：http://suncek17.glass.com.cn
電子組件振動試驗臺
產品屬性：
計量單位：臺 供貨總量：150 最小起訂量：1 產品單價：8200.00 品牌： 規格型號：SC-F 包裝說明：木箱